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金相顯微鏡，是一種高倍透反射觀察顯微鏡；一般金相顯微鏡主要運(yùn)用在不透明樣品的觀察和使用，例如金屬表面的高倍分析、金相組織的觀察、化工粉末、高分子材料觀察、電鍍鍍層、涂層厚度觀察、PCB切片/LED芯片、IC芯片等觀察分析等這些都是金相顯微鏡反射（也就是反射光觀察的樣品），透射光的觀察的樣品一般為半透明或者透明的，例如：ITO導(dǎo)電玻璃、薄膜、中藥/飲片或者粉末等樣品觀察。

金相顯微鏡可分為正置和倒置兩種，常見金相顯微鏡用可見光作為光源，根據(jù)使用者需求，可增加熒光光源實(shí)現(xiàn)熒光觀察。附加顯微鏡攝像頭和分析軟件，可對(duì)觀察結(jié)果進(jìn)行拍照保存、對(duì)比、測(cè)量和數(shù)據(jù)分析。

日本東京大學(xué)材料學(xué)院老師此次選用金相顯微鏡MJ42做電鏡樣品（材料）初期篩選，倒置金相顯微鏡MJ42操作簡(jiǎn)便，檢測(cè)快速，快速出結(jié)果，且結(jié)果易觀察；重復(fù)性好，空間定位準(zhǔn)確；主要應(yīng)用于金相組織及表面形態(tài)的顯微觀察，是金屬學(xué)、礦物學(xué)、材料學(xué)研究的理想儀器。

【本文的標(biāo)題】金相顯微鏡用于電鏡樣品初期篩選；https://www.mshot.com/article/1142.html